Slovákom sa podarilo získavať presnejšie výsledky pri skúmaní nanosveta

12. 04. 2017

Slovenským vedcom  z Fyzikálneho ústavu SAV sa podarilo presadiť pri výskume v rámci medzinárodného tímu. Tento výskum bol uverejnený aj v magazíne Nature Physics. Ide o novú metódu, ktorá umožňuje zmerať presnejšie vektorové veličiny na subatomárnej úrovni.

SAV: Medzinárodný tím, v ktorom pôsobili aj výskumníci z Fyzikálneho ústavu SAV zverejnili svoj nový výskum v magazíne Nature Physics (DOI: 10.1038/NPHYS4083). Ako vôbec prví dokázali odmerať vektorové veličiny v nanosvete pomocou upravenej metódy bezkontaktnej silovej mikroskópie. Výsledkom je nová metóda, ktorá umožňuje zmerať presnejšie vektorové veličiny na subatomárnej úrovni.

Práca v Nature Physics je výsledkom spolupráce so skupinou prof. Yasuhiro Sugawaru z Katedry aplikovanej fyziky v Osake, s ktorou má tím prof. Ivana Šticha dlhoročnú spoluprácu a pre ktorú robí počítačové modelovanie. Táto spolupráca už priniesla v minulosti viaceré významné výsledky v ďalších vysokoimpaktovaných časopisoch Nature Communications a Nano Letters.

Teraz v článku v Nature Physics priamo výpočtom overovali sily pôsobiace medzi hrotom mikroskopu a atómami povrchu germánia a dokázali objasniť chemickú identitu a morfológiu hrotu mikroskopu, ako aj zodpovedať nejasnosti ohľadne vzdialeností hrot-vzorka.

Schopnosť merať  vektorové veličiny na subatomárnej škále je pritom dôležitá, ak chceme nanomateriálom lepšie porozumieť a aplikovať ich. Predpokladá sa, že metóda otvorí nové okno pre materiály na subatomárnej škále, umožní lepšie pochopenie morfológie povrchov, ich chemického zloženia, chemických reakcií na ich na povrchoch, prispeje k zlepšeniu techník atomárnej a molekulárnej manipulácie a k lepšiemu pochopeniu správania sa nanostrojov. (is)

  Vektorová mapa síl nad dimérom atómov germánia na povrchu Ge(001)c(4  2 )

Vektorová mapa síl nad dimérom atómov germánia na povrchu Ge(001)c(4 ´ 2 )

  ----------------------------------------

Yoshitaka Naitoh, Robert Turanský, Ján Brndiar, Yan Jun Li, Ivan Štich, and Yasuhiro Sugawara, Sub-atomic-scale force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force microscopy, v tlači DOI: 10.1038/NPHYS4083.

Informácie nám poskytol PhDr. Stanislav Ščepán, vedúci  referátu pre komunikáciu a médiá SAV.

Uverejnila: MI

 

 

 

 

 

 

 

Kľúčové slová:
fyzikálne vedy, výskum

Odbory vedy a techniky:
Prírodné vedy

Tlač